一六儀器研發(fā)的XAVU智能抽真空儀器有什么性能優(yōu)勢？

時間：2022-07-27

XAVU是一款一機多用型X熒光光譜儀，搭載全新智能抽真空系統(tǒng),同時應用了**的EFP算法和微光聚集技術，既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析，尤其是對S引、P、S、Al、Mg等輕元素有較佳的激發(fā)效果，大大提高了檢測效率。產(chǎn)品廣泛應用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和生產(chǎn)工藝控制的測量使用。接著就跟X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下吧。

一六儀器研發(fā)團隊，潛心研發(fā)、打造XAVU智能抽真空儀器，外觀較加簡潔大氣。儀器在對輕元素涂鍍層厚度及成分測試上，精度較高，數(shù)據(jù)較加穩(wěn)定。儀器可自動檢測密閉性，準確控制真空度，搭載EFP**算法，能夠快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析。

XAVU X熒光光譜儀的性能優(yōu)勢有哪些?

1,搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和**的光路轉換聚焦系統(tǒng)，較小測量面積達0.03m㎡;

2.擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm;

3.**EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快準穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測**層Ni和*三層Ni的厚度);

4.配置智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽大氣對低能元素的影響，對Al,S引，P等輕元素涂鍍層厚度以及成分測試精度較高，數(shù)據(jù)較加準確穩(wěn)定;

5.裝配SDD硅漂移探測器，分辨率較高，能量線性好，較高的峰背比;

6.配置較高效數(shù)字多道技術，測試速度較快，計數(shù)率達到100000CPS,精度較高;

7.涂鍍層分析范圍：鋰Li(3)·軸U(92);

8.成分分析范圍：鈉Na(11)-軸U(92);

9.RoHS、鹵素有害元素檢測;

10.人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作;

11.標配4準直器自動切換，較小測量面積可達0.03m㎡;

12.配有微光聚集技術，較近測距光斑擴散度小于10%;

以上就是X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關于X熒光光譜儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務。公司產(chǎn)品廣泛的應用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。

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