一六儀器生產(chǎn)的XTD系列光譜測厚儀有哪些優(yōu)勢？

時(shí)間：2022-07-26

XTD系列上照式光譜測厚儀，適用于各種**大異形件及微小密集型多點(diǎn)測試，如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。那今天光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器就來跟大家介紹一下XTD系列產(chǎn)品吧。

XTD系列產(chǎn)品特征：

①　XYZ高精密移動裝置：快速精準(zhǔn)定位，手/自動(可選)，自動版可實(shí)現(xiàn)編程定位多點(diǎn)自動控制。

②　變焦+對焦：配備高敏感鏡頭，實(shí)現(xiàn)無感對焦，可測各種異形件、**大工件。

③　軟、硬件雙向操作：人性化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)軟件、硬件雙向快捷操作。

XTD系列性能優(yōu)勢：

(1) **的 EFP算法：多層多元素、各種元素及**物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量;

(2) 上照式設(shè)計(jì)：實(shí)現(xiàn)可對**大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量;

(3) 自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦;

(4) 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測 ;

(5) 小面積測量：較小測量面積0.002mm2;

(6) 可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)**自動測量;

以上就是光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于光譜測厚儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。

詞條
詞條說明
X熒光光譜儀在電子元器件中應(yīng)用及介紹
光譜儀在在很多領(lǐng)域中都會應(yīng)用到，比如：新能源、半導(dǎo)體、精密電子、環(huán)保rohs、地質(zhì)地礦、電子元器件、貴金屬行業(yè)、五金衛(wèi)浴、5G通訊、電鍍產(chǎn)業(yè)等等，下面主要說說X熒光光譜儀在電子元器件中應(yīng)用，儀器和一六儀器了解吧。電子元器件：電子元器件是電子元件和小型的機(jī)器、儀器的組成部分，其本身常由若干零件構(gòu)成，可以在同類產(chǎn)品中通用;常指電器、無線電、儀表等工業(yè)的某些零件，是電容、晶體管、游絲、發(fā)條等電子器件的總
鍍鎳測厚儀優(yōu)勢及維修問題
鍍鎳厚度測量儀是一款通過X射線原理快速、無損測試鍍層膜厚的儀器，主要應(yīng)用于金屬鍍層(鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀……)膜厚的檢測儀。下面和一六儀器了解鍍鎳測厚儀優(yōu)勢及維修問題。鍍鎳測厚儀優(yōu)勢：可靠的高性能：測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時(shí)減少浪費(fèi)和停機(jī)時(shí)間。較高的性價(jià)比：制造工藝升級，較具性價(jià)比，大大節(jié)省使用成本。*檢測技術(shù)：高集成垂直光路系統(tǒng)，采用**的解譜技術(shù)和影像識別算法，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)、
一六儀器生產(chǎn)的XTU系列光譜測厚儀具有哪些性能優(yōu)勢？
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發(fā)樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數(shù)量來進(jìn)行定性、定量分析，來實(shí)現(xiàn)快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發(fā)和生產(chǎn)，近些年服務(wù)了眾多客戶，獲得了一直**。今天就跟著光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。XTU系列光譜測厚儀，采
熒光光譜測厚儀選擇要注意哪些要素
熒光光譜分析儀在我們生產(chǎn)生活的方方面面都有應(yīng)用。隨著技術(shù)的進(jìn)步，熒光光譜分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣泛。市面上的熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家越來越多，我們在選擇熒光光譜測厚儀的時(shí)候難免蒙圈，那熒光光譜測厚儀在選擇的時(shí)候需要注意哪些要素呢?今天就個(gè)一六儀器的小編來了解一下吧。光譜儀測量結(jié)果是否可靠，第一步是要求測試激發(fā)用的X熒光要全部照射在被測物目標(biāo)點(diǎn)上，所以必須控制好光斑大小，那么較小測量面積就成了