為什么RoHS檢測儀要用X射線熒光光譜

時(shí)間：2022-07-05作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：300

X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。許多ROHS檢測儀器用戶大概都不太清楚儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的，這就是今天我們跟著RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。

X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。

然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量，在有關(guān)X射線熒光光譜儀技術(shù)原理我們有多的關(guān)于X射線熒光光譜儀是如何完成ROHS管控元素的分析工作的相關(guān)介紹。

XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)主要有六個(gè)組成部分，他們分別是：

1.分析速度高

測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。

2.X射線熒光光譜跟樣品化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)

X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。

3.化學(xué)狀態(tài)的改變

非破壞分析在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

4.物理分析法

X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

5.分析精密度高。

制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

以上就是RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解多關(guān)于RoHS檢測儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們400-850-1617。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。


江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

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