X射線熒光光譜測厚儀的優(yōu)勢介紹

時間：2022-06-14作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：109

市面上常見的材料成分厚度測試的方法有：金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費時間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試，磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄，那X光射線法有什么特點呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。

X光射線法的測試原理：X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。

應(yīng)用特點：，測量鍍層范圍廣，能解決細微面積及**薄鍍層的測量。不但能快捷廣泛測量膜厚，還能分析成分。

這種膜厚測試的方法相較于前兩種來說好。很多企業(yè)在選擇X射線熒光光譜測厚儀的時候都是一頭霧水，市面上品牌太多，無從下手。其實我們在選擇X射線熒光光譜測厚儀的時候只要綜合這幾個方面進行考量就可以了。一是產(chǎn)品質(zhì)量。這個我們可以進行實地考察，看看設(shè)備測試的情況，了解一下設(shè)備的配置和技術(shù)優(yōu)勢等。還可以詢問買過的朋友，看看使用效果如何;二是價格。價格是我們一定會考慮的一個因素，其中可能會涉及到設(shè)備的配置、應(yīng)用范圍、可測量的范圍等等。我們根據(jù)自己的需求，選擇合適的即可;三是售后服務(wù)，任何設(shè)備都不可能一直用到壞，我們是一定會進行維修的，那生產(chǎn)廠家的售后服務(wù)如果到位會給我們后期的使用，帶來很多的便利。

以上就是X射線熒光光譜測厚儀廠家一六儀器對于X射線熒光光譜測厚儀的相關(guān)介紹，如果你想要了解多內(nèi)容，歡迎聯(lián)系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)，在微小面積、異形高低面探測、多層多元素與多層同元素的檢測上，都具備佳的表現(xiàn)。


江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

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