x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

時(shí)間：2022-06-11

x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
x射線鍍層測(cè)厚儀的工作原理：
x射線鍍層測(cè)厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測(cè)量這被釋放出來的特征X射線的能量對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)行定性，測(cè)量這被釋放出來的特征X射線的強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)片(或者對(duì)比樣)對(duì)比得出各物質(zhì)的厚度，這種強(qiáng)度和厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系在軟件后臺(tái)形成曲線。而各種物質(zhì)的強(qiáng)度增加，厚度值也增加，但不是直線關(guān)系；通過標(biāo)樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法)得到一個(gè)接近實(shí)際對(duì)應(yīng)關(guān)系的曲線。
x射線鍍層測(cè)厚儀的特點(diǎn)：
1、一次可同時(shí)分析24個(gè)元素。
2、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
3、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
4、多變量非線性回收程序。
5、專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
6、針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器。
7、智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
8、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上。

詞條
詞條說明
X光鍍層測(cè)厚儀詳細(xì)分析功能說明
? ? ?X光鍍層測(cè)厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對(duì)方式,*購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.? ? ?
分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)
? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀向微型、
分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)
? ? ? X-RAY鍍層測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。 X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理：? ? ? ?鍍層
x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)
? ? ? ?x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。工作原理： x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W