波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開,然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素,因此測量速度通常比同時式慢,適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成,對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點。
X射線熒光光譜儀
能量色散X射線熒光光譜
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,分辨率較低的便攜式光
X射線熒光光譜儀儀,和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器,如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數(shù)器或閃爍計數(shù)器為探測器,它們不需要液氮冷卻。近年來,采用電致冷的半導體探測器,高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
非色散譜儀
非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開來,而是通過選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測等方法使測量分析線而排除其他能量譜線的干擾,因此一般只適用于測量一些簡單和組成基本固定的樣品。
全反射X射線熒光
如果n1>n2,則介質(zhì)1相對于介質(zhì)2為光密介質(zhì),介質(zhì)2相對于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對于X射線,一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以,如果介質(zhì)1是空氣,那么α1>α2(圖2.20右圖),即折射線會偏向界面。如果α1足夠小,并使α2=0,此時的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當α1<α臨界時,界面就像鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中,這就是全反射現(xiàn)象。
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詞條
詞條說明
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見,其技術(shù)原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或「射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當外層電子補充內(nèi)層電子時,會放射該原子所固有能量的X射線特征X射線。元素含量與特征X射線強度的關(guān)系不同元素特征X射線能量各不相同,依此進
X射線熒光光譜儀另一方面,化學元素遭到高能光子或粒子的照耀,如內(nèi)層電子被激起,則當外層電子躍遷時,就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時,如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應,被打出的電子稱為光電子
X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12~92的所有元素,選擇性高,分析微量組分時受基體的影響小,在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀:儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、**源是Rh靶X光管,較大電流125mA,電壓60kV,最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作,真空度<13pasca
RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標準的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。應用領(lǐng)域1、海關(guān)、質(zhì)檢局,第三方測試機構(gòu)等專業(yè)測試機構(gòu)QA檢驗。2、計算機、電話機、相機、手機等電子制造業(yè)QC,IQC、IPQC、QA檢驗。3、玩具、游戲機、文體設(shè)備等制造業(yè)QC,IQC、IPQC、QA檢驗。4、禮品、飾品、小五金等制造業(yè)Q
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