蘇州園區(qū)軸式吊耳裂縫檢測(cè)無(wú)損探傷檢測(cè)

時(shí)間：2020-09-21作者：江蘇廣分檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：74

無(wú)損檢測(cè)就是Non Destructive Testing，縮寫是NDT，也叫無(wú)損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展**的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)，主要有射線檢驗(yàn)（RT）、超聲檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）和液體滲透檢測(cè)（PT） 四種。




一、射線探傷Radiographic Testing
射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。這些射線雖然不會(huì)像可見(jiàn)光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來(lái)接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線強(qiáng)度減弱得越多，即射線能穿透過(guò)該物質(zhì)的強(qiáng)度就越校此時(shí)，若用照相底片接收，則底片的感光量就小；若用儀器來(lái)接收，獲得的信號(hào)就弱。

因此，用射線來(lái)照射待金屬探傷儀的零部件時(shí)，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過(guò)的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影；
若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過(guò)量。由此可見(jiàn)，一般情況下，射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說(shuō)，射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此，射線探傷對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷較敏感。即射線探傷儀適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。

二、超聲波探傷Ultrasonic Testing
人們的耳朵能直接接收到的聲波的頻率范圍通常是20Hz到20kHz，即音頻。頻率**20Hz的稱為次聲波，**20kHz的稱為超聲波。工業(yè)上常用數(shù)兆赫茲超聲波來(lái)探傷。超聲波頻率高，則傳播的直線性強(qiáng)，又易于在固體中傳播，并且遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面時(shí)易于反射，這樣就可以用它來(lái)探傷。通常用超聲波探頭與待探工件表面良好的接觸，探頭則可有效地向工件**超聲波，并能接收界面反射來(lái)的超聲波，同時(shí)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，再傳輸給儀器進(jìn)行處理。根據(jù)超聲波在介質(zhì)中傳播的速度和傳播的時(shí)間，就可知道缺陷的位置。當(dāng)缺陷越大，反射面則越大，其反射的能量也就越大，故可根據(jù)反射能量的大小來(lái)查知各缺陷的大校常用的探傷波形有縱波、橫波、表面波等，**者適用于探測(cè)內(nèi)部缺陷，后者適宜于探測(cè)表面缺陷，但對(duì)表面的條件要求高。

三、磁粉探傷Magnetic Particle Testing
磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁較。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁較就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材料及其制品的缺陷情況。磁粉探傷法可探測(cè)露出表面，用肉眼或借助于放大鏡也不能直接觀察到的微小缺陷，也可探測(cè)未露出表面，而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對(duì)面積型缺陷靈敏，適于檢查因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊接、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。磁力探傷中對(duì)缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡(jiǎn)單、人們樂(lè)于使用，故它是zui常用的方法之一。不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱為漏磁探傷，它常借助于感應(yīng)線圈、磁敏管、霍爾元件等來(lái)反映缺陷，它比磁粉探傷衛(wèi)生，但不如前者直觀。由于目前磁力探傷主要用磁粉來(lái)顯示缺陷，因此，人們有時(shí)把磁粉探傷直接稱為磁力探傷，其設(shè)備稱為磁力探傷設(shè)備。





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