詞條
詞條說(shuō)明
ICP全譜像數(shù)尺寸是衡量電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)性能優(yōu)劣的關(guān)鍵指標(biāo)之一,它直接關(guān)系到儀器的分辨率、掃描波長(zhǎng)范圍以及分析精度等多個(gè)方面。以下將對(duì)ICP全譜像數(shù)尺寸進(jìn)行簡(jiǎn)要概述。首先,從分辨率這一核心參數(shù)來(lái)看,ICP全譜像數(shù)尺寸的提升意味著儀器能夠更精確地識(shí)別和分析樣品中的元素成分。例如,現(xiàn)代先進(jìn)的ICP光譜儀,如某些型號(hào)的儀器,其分辨率已達(dá)到極高水平,能夠清晰地區(qū)分樣品中微量元素
直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理,樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜,發(fā)射光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射波長(zhǎng)范圍,通過(guò)光電管測(cè)量每個(gè)元素的最佳譜線,每種元素發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量,通過(guò)內(nèi)部預(yù)制校正曲線可以測(cè)定含量,直接以百分比濃度顯示。?
人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆,實(shí)際上,兩個(gè)在原理上有本質(zhì)的不同。手持式光譜儀工作原理:當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上,這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的,這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移,這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣3蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差;
CCD全譜光譜儀作為現(xiàn)代分析測(cè)試領(lǐng)域的重要儀器,在多個(gè)行業(yè)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其廠家眾多,各自擁有獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和市場(chǎng)定位,為用戶提供了多樣化的選擇。CCD全譜光譜儀的工作原理基于電荷耦合器件(CCD)技術(shù),通過(guò)捕捉光譜信息并進(jìn)行數(shù)字化處理,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品成分和結(jié)構(gòu)的精確分析。這種儀器通常具有高分辨率、高靈敏度、快速分析等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品安全、冶金鑄造等領(lǐng)域。在眾多CCD全
公司名: 鋼研納克江蘇檢測(cè)技術(shù)研究院有限公司
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地 址: 北京海淀西直門(mén)高梁橋斜街13號(hào)
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