MTTF、MTBF和MTTR的辦法理流程和介紹

時(shí)間：2020-02-25

作者：深圳安博檢測股份有限公司

詞條
詞條說明
申請(qǐng)MTBF認(rèn)證的作日和目的是什么
MTBF,即平均故障間隔時(shí)間，英文全稱是“Mean Time Between Failure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間，也稱為平均故障間隔。概括地說，產(chǎn)品故障少的就是可靠性高，產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”（Failure rate）。
如何申請(qǐng)MTBF認(rèn)證，申請(qǐng)MTBF認(rèn)證需要提交什么資料
MTBF由來隨著服務(wù)器的廣泛應(yīng)用，對(duì)服務(wù)器的可靠性提出了較高的要求。所謂“可靠性”，就是產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力；反之，產(chǎn)品或其一部分不能或?qū)⒉荒芡瓿梢?guī)定的功能是出故障。概括地說，產(chǎn)品故障少的就是可靠性高，產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”（Failure rate），常用λ表示。例如正在運(yùn)行中的100只硬盤，一年之內(nèi)出了2次故障，則每個(gè)硬盤的故障率為0.02次/年
歐盟CE認(rèn)證有哪些測試內(nèi)容？
輻射(Radiation):空間輻射(Chamber)/功率輻射(Clamp)/開放場地測試(Opensite)2. 傳導(dǎo)(Conduction)3. 電源諧波(Harmonic)4. 電壓閃爍(Flicker)EMS(電磁耐受)可分為： 1.ESD(耐靜電輻射測試) 2.EFT(耐脈沖雜訊測試) 3.SURGE(耐雷擊突波測試) 4.RS(耐射頻輻射測試) 5.CS(耐射頻傳導(dǎo)測試) 6.Mag
IEC 61215的更新內(nèi)容-序列內(nèi)容變更
關(guān)于IEC 61215的較新內(nèi)容-序列內(nèi)容變更在老版本61215基礎(chǔ)上補(bǔ)充及變更了一些測試內(nèi)容，具體的內(nèi)容將做分別的羅列和介紹。由于測試序列的變更，老標(biāo)準(zhǔn)整套測試只需要8片組件，而新標(biāo)準(zhǔn)增加至10片。在組件初始外觀檢查與功率測試之間，增加了初始化處理步驟，晶硅組件為預(yù)處理，而薄膜組件不需要進(jìn)行，此部分取代了老版本中的預(yù)處理環(huán)節(jié)。參考組件由此前的1片增加至3片原有的NOCT/OD 等所在的序列測試由