紫外線老化測(cè)試的項(xiàng)目有哪些

時(shí)間：2020-08-25作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：418

       紫外老化試驗(yàn)主要模擬陽(yáng)光中的紫外光對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生的劣化效應(yīng)。同時(shí)它還可以再現(xiàn)雨水和露水所產(chǎn)生的破壞。通過(guò)將待測(cè)材料曝曬放在經(jīng)過(guò)控制的陽(yáng)光和濕氣的交互循環(huán)中，同時(shí)提高溫度的方式來(lái)進(jìn)行試驗(yàn)。采用紫外線熒光燈模擬陽(yáng)光，同時(shí)還可以通過(guò)冷凝或噴淋的方式模擬濕氣影響。
      只需要幾天或幾周時(shí)間，紫外老化試驗(yàn)可以再現(xiàn)戶(hù)外需要數(shù)月或數(shù)年所產(chǎn)生的破壞。所造成的損害主要包括退色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強(qiáng)度下降及氧化。 
      盡管紫外光（UV）只占陽(yáng)光的5％，但是它卻是造成戶(hù)外產(chǎn)品耐用性下降的主要光照因素。這是因?yàn)殛?yáng)光的光化學(xué)反應(yīng)影響隨著波長(zhǎng)的減少而增加。因此在模擬陽(yáng)光對(duì)材料物理性質(zhì)的破壞影響時(shí)，不需要再現(xiàn)整個(gè)陽(yáng)光光譜。在大多數(shù)情況下，只需要模擬短波的UV 光即可。紫外光加速耐候試驗(yàn)機(jī)之所以采用UV 燈的原因在于它們比其他的燈管較為穩(wěn)定，并且能較好的再現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果。采用熒光UV 燈模擬陽(yáng)光對(duì)物理性質(zhì)的影響，例如亮度下降、龜裂、剝落等方面，是好的方法。
      有幾種不同的UV 燈可供選擇。大多數(shù)的這些UV 燈主要產(chǎn)生紫外光，而不是可見(jiàn)光和紅外光。燈的主要差別體現(xiàn)在它們?cè)诟髯圆ㄩL(zhǎng)范圍內(nèi)產(chǎn)生的UV 總能量上的不同。不同的燈會(huì)產(chǎn)生不同的測(cè)試結(jié)果。實(shí)際的曝曬應(yīng)用環(huán)境可以提示應(yīng)選用哪種類(lèi)型的UV 燈。 
      UVA-340，模擬陽(yáng)光紫外線的佳選擇 
      UVA-340 可較好地模擬臨界短波波長(zhǎng)范圍的陽(yáng)光光譜，即波長(zhǎng)范圍為295-360nm 的光譜，UVA-340 只產(chǎn)生在陽(yáng)光中能找到的UV 波長(zhǎng)的光譜。
      UVB-313，用于大程度的加速試驗(yàn)
      UVB-313 可以很快地提供試驗(yàn)結(jié)果。它們所采用的短波長(zhǎng)UV 比目前地球上通常找到的UV 光波較為強(qiáng)烈。盡管這些比自然波長(zhǎng)短許多的UV 光能夠大程度地加速試驗(yàn)，但它同時(shí)也會(huì)對(duì)某些材料造成不符和實(shí)際的退化破壞。
      標(biāo)準(zhǔn)定義**300nm 以下的光能**總輸出光能2％的一種熒光紫外燈，通常稱(chēng)為UV-A 燈；**300nm
以下的光能大于總輸出光能10％的一種熒光紫外燈，通常稱(chēng)為UV-B 燈；暴露方式分為兩種：
       （1）試樣經(jīng)一段光暴露期后，繼之為無(wú)輻照期（此時(shí)溫度發(fā)生變化和在試樣上形成凝露）  的循環(huán)試驗(yàn)．
       （2）試樣連續(xù)進(jìn)行輻照暴露且有定時(shí)噴水的循環(huán)試驗(yàn)． 
      熒光燈的優(yōu)點(diǎn)在于：獲得試驗(yàn)結(jié)果；簡(jiǎn)化的光照度控制；穩(wěn)定的光譜；只需很少的維護(hù)；價(jià)格*，運(yùn)行費(fèi)用合理。
地球上的陸地只有很少一部分，一大半的面積是海洋，因此海洋氣候是對(duì)人類(lèi)生活和材料產(chǎn)品影響很大的一種氣候環(huán)境。
 
   參考標(biāo)準(zhǔn)
   GB/T16422.3   塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法 *3部分：熒光紫外燈      
    ISO 4892-3塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法 *3部分：熒光紫外燈
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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 無(wú)線產(chǎn)品檢測(cè)

  無(wú)線產(chǎn)品檢測(cè)產(chǎn)品種類(lèi)繁多，包括藍(lán)牙BT產(chǎn)品、wifi產(chǎn)品，平板電腦、無(wú)線鍵盤(pán)/鼠標(biāo)、RFID、無(wú)線收發(fā)器、遙控器、無(wú)線對(duì)講機(jī)、無(wú)線麥克風(fēng)、DECT產(chǎn)品、2G/3G/4G手機(jī)等等。實(shí)驗(yàn)室能夠進(jìn)行的咨詢(xún)有歐盟R&TTE，美國(guó)FCCID、BQB，加拿大ICID，日本TELEC、JET咨詢(xún)，韓國(guó)KCC咨詢(xún)，新加坡IDA咨詢(xún)，中國(guó)無(wú)線**SRRC咨詢(xún)，澳大利亞ATICK/CTICK等。豐富的RF測(cè)

• 失效分析

  產(chǎn)品范圍材料、元件、半導(dǎo)體分立器件、集成電路、 模塊等。?技術(shù)能力?電學(xué)分析：半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、功率器件分析儀、耐壓測(cè)試儀等。??損分析：X-RAY、C-SAM、顆粒碰撞噪聲測(cè)試系統(tǒng)、粗/細(xì)檢漏系統(tǒng)等。?顯微形貌分析：光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡。?學(xué)性能分析：拉力剪切儀、靜態(tài)力學(xué)試驗(yàn)機(jī)、動(dòng)態(tài)力學(xué)試驗(yàn)機(jī)等。?制樣技術(shù)：噴射腐蝕開(kāi)封機(jī)、反應(yīng)離子刻蝕機(jī)、金相研磨系統(tǒng)等。ESD/Lat

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