VIC-3D非接觸全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)

時(shí)間：2018-03-12作者：研索儀器科技（上海）有限公司瀏覽：110

VIC-3D?非接觸全場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，其技術(shù)源自美國(guó)南卡羅萊納大學(xué)(USC)——**DIC理論與技術(shù)的發(fā)源地，其制造商為成立自南卡大學(xué)并由NASA投資的美國(guó)Correlated Solutions, Inc.公司(以下簡(jiǎn)稱CSI)。做為DIC技術(shù)的原創(chuàng)者，在
20年的研究與發(fā)展過(guò)程中，CSI公司始終**該技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)，并保持了在功能、精度、計(jì)算效率和穩(wěn)定性等方面的技術(shù)良好優(yōu)勢(shì)，擁有多項(xiàng)專有的DIC測(cè)量技術(shù)**。該測(cè)量系統(tǒng)采用高精度的數(shù)字圖像相關(guān)性運(yùn)算法則，為試驗(yàn)提
供測(cè)量范圍內(nèi)的3D全場(chǎng)的形貌、位移及應(yīng)變等數(shù)據(jù)信息。
系 統(tǒng)原理
VIC-3D?系統(tǒng)采用的數(shù)字圖像相關(guān)算法(Digital Image Correlation，以下簡(jiǎn)稱DIC)，是一種通過(guò)圖像相關(guān)網(wǎng)格信息(圖示紅色標(biāo)示)進(jìn)行比對(duì)的算法，通過(guò)該方法可計(jì)算出物體表面位移及應(yīng)變分布。整個(gè)測(cè)量過(guò)程，只需以一臺(tái)(2D)或兩臺(tái)(3D)至多臺(tái)(陣列)圖像采集器，拍攝變形前后待測(cè)對(duì)象圖像，經(jīng)圖像比對(duì)運(yùn)算后3D全場(chǎng)應(yīng)變數(shù)據(jù)分布即可一目了然。不像應(yīng)變片需花費(fèi)大量時(shí)間做表面的磨平及黏貼，同時(shí)也只能測(cè)量到一個(gè)點(diǎn)某個(gè)方向的應(yīng)變數(shù)據(jù)。也不
像條紋干涉法對(duì)環(huán)境要求嚴(yán)格，而且DIC方法獲得的數(shù)據(jù)為測(cè)量范圍內(nèi)的3D全場(chǎng)數(shù)據(jù)信息。DIC技術(shù)在室內(nèi)室外的普通環(huán)境均可使用，應(yīng)變測(cè)量范圍從0.005%到2000%，配合不同的圖像采集硬件，測(cè)量對(duì)象尺度可以從納米級(jí)
到衛(wèi)星圖像的千米級(jí)，理論上只要能夠獲取高質(zhì)量的圖像，即可進(jìn)行精確的應(yīng)變與變形測(cè)量。
DIC 系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)
? 直接測(cè)量全場(chǎng)應(yīng)變、位移、變形、形貌
? 直接測(cè)量全場(chǎng)振幅、ODS等振動(dòng)信息
? 非接觸測(cè)量
? 試驗(yàn)過(guò)程可追溯、可評(píng)估
? 相關(guān)圖像數(shù)據(jù)可反復(fù)分析處理，以實(shí)現(xiàn)不同研究目的，而無(wú)須重復(fù)試驗(yàn)，節(jié)約經(jīng)濟(jì)和時(shí)間成本?????? ??


研索儀器科技（上海）有限公司專注于非接觸全場(chǎng)測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量,數(shù)字圖像相關(guān),VIC-3D等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• VIC-3D非接觸全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)

  VIC-3D?非接觸全場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，其技術(shù)源自美國(guó)南卡羅萊納大學(xué)(USC)——**DIC理論與技術(shù)的發(fā)源地，其制造商為成立自南卡大學(xué)并由NASA投資的美國(guó)Correlated Solutions, Inc.公司(以下簡(jiǎn)稱CSI)。做為DIC技術(shù)的原創(chuàng)者，在 20年的研究與發(fā)展過(guò)程中，CSI公司始終**該技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)，并保持了在功能、精度、計(jì)算效率和穩(wěn)定性等方面的技術(shù)良好優(yōu)勢(shì)，擁有多項(xiàng)專有的DIC測(cè)